ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП, прибор, в к-ром для получения увеличенного изображения используется пучок движущихся в вакууме электронов, фокусируемый электрич. или магнитными полями (электронными линзами). Позволяет визуально изучать частицы во много раз меньшие, чем наблюдаемые в световом микроскопе.

Рис.1. Схема электронного микроскопа просвечивающего типа: К — катод; ФЭ —фокусирующий электрод; А — анод; КЛ — конденсорная линза; О — объект; ОЛ —объективная линза; АД — апертурная диафрагма; ПИ — плоскость изображения; ПЛ —проекционная линза; ДП — диафрагма поля зрения; Э — экран; Ф — фотопластинка.

В биол. исследованиях, в частности при исследовании живых объектов, наиболее распространён Э. м. просвечивающего типа, обладающий разрешающей способностью 4,5—5 А, иногда до 1 А (ангстрем), в к-ром электроны пронизывают объект. Схема Э. м. этого типа дана на рис. 1. Осветит. система микроскопа, образующая и фокусирующая поток электронов, состоит из электронной пушки (катод, фокусирующий электрод и анод) и конденсорной линзы. Фокусирующая система состоит из объективной и одной (иногда двух) проекционной линз. Первое (промежуточное) увеличенное изображение объекта формируется объективной линзой, куда попадает сфокусированный конденсорной линзой пучок электронов после прохождения сквозь объект. Изображение появляется на имеющемся в этой плоскости флюоресцирующем экране в результате его свечения под действием электронов (невидимое изображение переходит в видимое). Часть электронов через отверстие, находящееся в центре промежуточного экрана, проходит в проекционную линзу, где формируется увеличенное изображение уже в др. плоскости на втором флюоресцирующем экране. На нём возникает конечное (видимое) изображение, к-рое является произведением увеличений, даваемых двумя линзами. Увеличение контрастности изображения обеспечивается наличием апертурной диафрагмы. Степень и характер рассеяния электронов неодинаковы в различных точках объекта. В связи с этим изменяется число электронов, задержанных апертурной диафрагмой после прохождения различных точек объекта, а следовательно, и плотность тона на изображении, к-рая преобразуется в световой контраст на экране. В Э. м. из-за малой величины апертурного угла глубина поля зрения очень велика и может измеряться неск. микронами. Увеличение на экране (при сохранении разрешающей способности) находится на минимальном уровне, поэтому потеря деталей в изображении объекта визуальной электронной микроскопии восстанавливается путём дополнительного оптич. увеличения и фотографирования. При электронной микроскопии существенное значение имеют объяснение наблюдаемых изображений, учёт возможных артефактов (искусств. образование, возникающее в объекте в процессе его обработки) и предупреждение ошибок. Искажение в электронномикроскопич. изображениях зависят от способов обработки объекта (сушка, фиксация, заливка и др.) при его препарировании. Исключение артефактов обеспечивается выбором наиболее подходящих методов препарирования. Полезны неоднократно повторяемые наблюдения одних и тех же объектов при использовании различных фиксаторов и способов высушивания.

Пром-сть СССР выпускает ряд моделей Э. м., имеющих разные назначения и обладающих различной разрешающей способностью, напр. модель УЭМВ-100 Б (рис. 2) для исследования живых микроорганизмов. Широкую известность получили также Э. м., выпускаемые в Японии, ФРГ, США, Великобритании и Голландии. См. также Микроскопия.

Рис.2. Электронный микроскоп УЭМВ-100 Б.

Лит.: Киселев Н. А., Электронная микроскопия биологических макромолекул, М., 1965; Кельман В. М., Явор С. Я., Электронная оптика, 3 изд., Л., 1968.